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VA2系列

VA2系列

●高端定制纳米级光场采集芯片
●单次拍摄即可获取多重视角、多重聚焦图像
●支持三维测量、缺陷检测与实时三维建模
●支持相机与光场算法SDK二次开发
●配套高性能光场渲染软件
服务热线:

021-54473021

相机型号VA2-H
可适配镜头1.1 - 1.75x2.1-5x10-20x

视野

范围

X方向
7.3 - 11.2 mm2.6-6.1 mm0.64-1.28 mm
Y方向7.3 - 11.2 mm2.6-6.1 mm0.64-1.28 mm
Z方向(景深)3.9 -9.0 mm0.50 - 2.9 mm0.042-0.12 mm
横向分辦率 ¹17.5 - 24.8 μm5.5-15.4 μm2.2-3.9 μm
Z方向重复精度 ²0.5- 1.3 μm0.1-0.3 μm0.05 μm
全周期帧率 ³21 fps

1  横向分辦率:数据为相机全景深、全视野范围内测试 USAF1951 分辦率测试卡得出的最佳分辨率。

2  乙方向重复精度 (1σ):

(1)数据在相机全景深、全视野范围内测试得出;

(2)测试方法采用:分别在近景深边缘、焦平面、远景深边缘拍摄园点标定板,每个位置将 FOV等分9个区域(区域内圆点面积为1.4%FOV),计算 27 个区域内上下两个标定板乙均值差的100 次测量数据的一倍标准差,取最差值作为最终结果。

3  全周期帧率:实时拍摄、计算并保存多视角与深度信息的帧率(建议显卡配置 RTX3080Ti 及以上)

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